用正电子湮没谱学技术表征一种有机-无机杂化膜

• 作者: 于润升 于胜楠 姜忠义 曹兴忠 杨静 潘福生 王宝义 王胜 田丽霞
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 正电子湮没 自由体积 杂化膜 金属框架材料填充聚二甲基硅氧烷
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 25-30
• 页数: 6页
• 分类号: TL817+.8
• 字数: 3896字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.030202

摘要

应用正电子湮没寿命谱(Positron annihilation lifetime spectroscopy,PALS)和正电子湮没符合多普勒展宽能谱(Coincidence Doppler broadening energy spectroscopy,CDBES)等正电子湮没谱学技术能从微观尺度上对聚合物-金属有机骨架材料杂化膜的微观结构进行表征.结果表明,随着金属有机骨架(Metal-Organic Frameworks,MOFs)添加量的增大,杂化膜中较小的和较大的自由体积的尺寸都减小了;杂化膜的正电子湮没符合多普勒展宽能谱显示,MIL-101 (Material Institute Lavoisier-l0l)亚纳米粒子的加入使得正电子在聚二甲基硅氧烷(Poly(dimethyl siloxane),PDMS)氧原子上的偏向湮没效应减弱,部分正电子与来自MIL-101亚纳米粒子中金属原子的电子发生湮没,表明MOFs加入改变了聚合物基体自由体积周围的化学环境.