基于噪声的电子元器件辐射加固筛选研究

• 作者: 李伟森
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 电子元器件 辐照 1/f噪声 筛选
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 4-7
• 页数: 4页
• 分类号: TN601
• 语种: 中文

摘要

为了保证航天产品的可靠性,必须对其进行辐射加固,电子元器件抗辐射筛选是其中关键步骤.传统的筛选方法是电参量检测分析,但存在灵敏度差、效率低等问题,该文以3DG101型号功率三极管作为典型,研究噪声检测用于器件抗辐射筛选的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李伟森	中国电子科技集团公司第二十七研究所	4	23	3.0	4.0