基于BP神经网络的LED可靠性模型研究

• 作者: 夏云云 文尚胜 黄伟明
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: 发光二极管 可靠性 BP神经网络 权重分析
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 发光学应用及交叉前沿
• 页码范围: 962-968
• 页数: 7页
• 分类号: TN312+.8
• 字数: 3547字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20153608.0962

摘要

根据LED可靠性与相关参数的映射关系，建立拓扑结构为6-12-1的BP神经网络。以实测白光LED芯片的理想因子、结温、色温漂移等参数为输入量，以寿命为输出量，计算模型精度。研究结果表明，该模型有良好的外推能力及鲁棒性，可在短时间内成功预测LED寿命，神经网络训练结果相关系数为99.8%，检验组误差小于3%。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄伟明		1	10	1.0	1.0
2	文尚胜		1	10	1.0	1.0
3	夏云云		1	10	1.0	1.0