化铜沉铜与起步铜有何不同（下）

• 作者: 白蓉生
• 来源期刊: 印制电路资讯
• 学科: 工学
• 关键词: 铜层 光学显微镜 彩色图像 失效分析 彩色图片 PCB 微切片 SEM
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 94-97
• 页数: 4页
• 分类号: TN41

摘要

由于光学显微镜的进步与微切片手法的到位，使得PCB失效分析彩色图像所表现的质量，已远超过SEM低倍的黑白画面。本文即利用多张光学的高倍彩色图片，说明业界从未得见的三种配角性的不起眼铜层。从PCB数十年历史的众多文献中，得曾未有的本文各图，堪称是首次深入报道细微世界的真相。