直接熔样正热电离质谱法测定二硼化锆中硼同位素丰度

• 作者: 冯海宁 刘新燕 柳永恒 王慧 赵永红 陈艳宏
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 化学
• 关键词: 正热电离质谱法(PTIMS) 检测离子 硼同位素 直接熔样法
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 565-570
• 页数: 6页
• 分类号: O657.63
• 字数: 4191字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/zpxb.youxian.2015.0041

摘要

本工作选择m/z 88(23Na210BO2+)和m/z 89 (23Na211 BO2+)的Na2BO2+作为检测离子,研究了同位素干扰、涂样技术、ZrB2样品处理等对硼同位素测定的影响,建立了快速准确测定ZrB2中硼同位素丰度的正热电离质谱法.实验复现了硼同位素标准物质的标准值,对酸溶法分解试样后涂样和直接熔融法涂样测量结果的精密度进行了比较.结果表明,采用直接熔融法涂样可以快速准确地测定ZrB2中硼同位素丰度,δ10B同位素丰度测定结果精密度优于0.020％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柳永恒		2	2	1.0	1.0
2	冯海宁		5	3	1.0	1.0
3	赵永红		3	3	1.0	1.0
4	刘新燕		1	2	1.0	1.0
5	陈艳宏		3	3	1.0	1.0
6	王慧		1	2	1.0	1.0