基于低频噪声检测光耦器件可靠性的频域筛选方法?

• 作者: 景非 王文婷 陈晓娟
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 光耦噪声筛选 低频噪声检测 过激噪声 筛选阈值
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 58-62
• 页数: 5页
• 分类号: TN37|TN722.3
• 字数: 2528字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2015.01.013

摘要

针对光耦器件可靠性筛选，提出全频段阈值筛选方法检测光耦器件内部低频噪声。根据光耦器件内部的低频噪声完成光耦器件可靠性的筛选。实验中利用光耦器件测试系统检测200只光耦器件内部的低频噪声，计算这200只光耦器件全频段平均噪声谱，确定筛选的阈值，再根据光耦器件可靠性分类标准，判断被测器件可靠性等级。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈晓娟	东北电力大学信息工程学院	47	303	9.0	14.0
2	王文婷	东北电力大学信息工程学院	6	35	5.0	5.0
3	景非	北京邮电大学计算机学院	1	5	1.0	1.0