低压终端隔离开关的可靠性改进

• 作者: 朱文灏 郭其一 陈雷
• 来源期刊: 电气制造
• 关键词: 隔离开关 可靠性 结构改进 快速闭合 引弧
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 解决方案
• 页码范围: 64-66
• 页数: 3页
• 字数: 2060字
• 语种: 中文

摘要

分析了传统低压终端隔离开关的结构特点、存在的可靠性问题,并针对此提出了一种改进的结构.改进方案简化了产品电路机构,解决了触头运动不平衡问题,改进了触头烧损问题.并采用快速闭合机构和引弧角,大大减少了电弧产生,显著减小了隔离开关的熔焊问题,从而提高了隔离开关的可靠性和使用寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭其一	同济大学电子与信息工程学院	131	841	12.0	24.0
2	朱文灏	同济大学电子与信息工程学院	10	8	1.0	2.0
6	陈雷		2	0	0.0	0.0