多光谱成像仪几何特征标定技术研究

• 作者: 姚君 王伟兴 郎小龙
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多光谱成像仪 几何特征 几何标定 自准直仪
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 页码范围: 70-73
• 页数: 4页
• 分类号: TP949.6
• 字数: 2353字
• 语种: 中文

摘要

多光谱成像仪具有同目标多谱段信息获取的特点，因此在空间遥感领域占据很重要的位置。由于成像仪光学系统不可避免的存在几何畸变问题，会对获取地面目标信息的精度造成很大的影响，因此对于多光谱成像仪进行几何特征标定对于提升成像仪成像质量的有很大的作用。本文中应用标准网格板、自准直仪和高精度二维转台组合的几何特征标定方法，此方法具有测量原理简单、实验直观、标定结果可靠性高等特点。多次标定结果表明：主点标定精度优于5．2μm，主距标定精度优于0．02 m m。满足实验要求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郎小龙	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	12	123	6.0	11.0
2	姚君	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	2	24	2.0	2.0
3	王伟兴	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	4	15	2.0	3.0