FIFO SRAM单粒子效应的测试系统设计

• 作者: 刘永灿 李爱平 潘滨
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子效应 存储器测试 NI工控机
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 页码范围: 23-26
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2003字
• 语种: 中文

摘要

随着航空航天事业的发展，器件的抗辐照性能变得越来越重要，因此对抗辐照指标的应用测试已显得至关重要。基于FPGA和NI工控机，设计四通道数据采集测试系统，用于监测FIFO SRAM单粒子实验中发生的单粒子翻转（SEU）和单粒子闩锁（SEL）效应。采样率可达50 MHz，对器件的读写频率达10 MByte/s。该系统可实现对FIFO SRAM单粒子试验过程的远程测控。在监测单粒子翻转的过程中，既监测存储器的SEU效应，又监测了读写指针的SEU效应，并经过实际的单粒子效应测试验证了本系统的可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘滨		5	5	1.0	1.0
2	刘永灿		2	1	1.0	1.0
3	李爱平		1	1	1.0	1.0