超低副瓣天线平面近场测量采样间距误差分析

• 作者: 刘浩 陈玉林
• 来源期刊: 舰船电子对抗
• 学科: 工学
• 关键词: 采样间距 超低副瓣天线 平面近场测量 误差分析
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 雷达技术
• 页码范围: 27-29
• 页数: 3页
• 分类号: TN820
• 字数: 2546字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16426/j.cnki.jcdzdk.2015.03.008

摘要

基于超低副瓣天线测试对精度的要求,利用计算机模拟的方法研究了平面近场测量中采样间距误差对超低副瓣天线副瓣的影响,得到了一些规律和有用的结果,并证明了Nyquisty采样定理在超低副瓣天线测试中的适用性和正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘浩		14	30	3.0	4.0
2	陈玉林		4	5	1.0	2.0