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摘要:
随着集成电路的迅速发展,熔丝在电路设计中应用普遍,测试对熔丝的要求也越来越高,需要更好的准确度和更快的效率。熔丝可以修调的参数当然也取决于该熔丝在电路中的作用,输出电压、参考电压是最为常见的修调参数,此外如基准频率、电流等也都可以通过修调做到很高的精度。简单介绍了常见的熔丝以及其作用,常用的熔丝并行测试的优势和缺陷,提出了在大于4 site测试时,进一步提高熔丝修调准确性以及修调速度的测试方法。
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文献信息
篇名 高效率并行熔丝方案的设计
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 熔丝编程 并行测试 多site测试
年,卷(期) 2015,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 16-19
页数 4页 分类号 TN402
字数 2620字 语种 中文
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研究主题发展历程
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熔丝编程
并行测试
多site测试
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相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
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3006
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24
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9543
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