现场X荧光分析技术在铜矿勘探中的应用实例

• 作者: 熊超 窦小平 花永涛 葛良全
• 来源期刊: 四川有色金属
• 学科: 化学
• 关键词: X荧光测量 铜矿 勘探 化学分析
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 60-62
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1822字
• 语种: 中文

摘要

采用现场X荧光测量方法对云南某铜矿远景区174件1:50000水系沉积物样品进行测量分析,发现两处明显的铜元素异常,随即进行土壤次生晕测量追踪铜异常,发现硅化蚀变带.且等值线与实验室化学分析铜含量等值线基本吻合,在测区内铜元素的浓集中心完全吻合,尤其是在铜与异常形态、异常规模和异常大小等特征吻合较好,证明现场X荧光测量方法可有效圈定和追踪异常.而数据报出时间为一天,相比于实验室化学分析方法具有显著的时效性优势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	熊超		21	92	4.0	8.0
4	窦小平		9	56	4.0	7.0