一种用于高速ADC INL/DNL测试的新方法

• 作者: 郭晓宇
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 高速ADC 微分非线性 积分非线性
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2760字
• 语种: 中文

摘要

随着高速ADC器件的不断出现，传统的低速ADC器件测试评价方法已经越来越不适用。为从工程上实现高速ADC器件的测试评价，提供了一种高速ADC器件关键参数评价INL、DNL的新方法，详细分析了新算法的原理和正确性。目前这些算法已经大量应用到实际高速ADC器件的测试评价中去，解决了高速ADC器件难以评价的问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭晓宇		8	14	3.0	3.0