全片层TiAl合金的片层取向和片层间距控制的研究现状

• 作者: 张秉刚 李晓鹏
• 来源期刊: 航空材料学报
• 关键词: 全片层TiAl合金 片层取向 片层间距 力学性能
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 90-98
• 页数: 9页
• 分类号: TG146.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.11868/j.issn.1005-5053.2015.5.014

摘要

全片层TiAl合金的片层取向和片层间距对其断裂韧性、屈服强度、蠕变性能和疲劳性能等力学性能具有重要影响.本文从片层取向控制和片层间距控制两方面,系统的综述了全片层TiAl合金的性能和组织间的关系,并总结了提升全片层TiAl合金的性能的手段.指出取向与晶体生长方向相同、片层间距细小的全片层TiAl合金具有最优的综合力学性能;减小Al当量、增大生长速度和环境压力可减小全片层TiAl合金的片层间距,增大Al当量是最简单有效的细化片层的手段;自引晶法是控制片层取向的新兴方法,是未来TiAl合金片层取向控制的重要发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张秉刚	哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室	101	1262	18.0	30.0
2	李晓鹏	哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室	12	344	6.0	12.0