65Mn卡箍氢脆断裂失效分析

• 作者: 胡小华 许磊 陈兴安 马丽莎 马林
• 来源期刊: 金属制品
• 学科: 工学
• 关键词: 65Mn 氢脆 镀锌 断裂 扫描电镜 能谱分析
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 标准与检测
• 页码范围: 59-61
• 页数: 3页
• 分类号: TG115
• 字数: 1181字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-4226.2015.03.017

摘要

厚度0.5 mm飞机座舱照明用65Mn卡箍装配过程中出现裂纹,扳动后断裂.采用能谱分析、扫描电镜等对断口处进行分析,结果表明:卡箍断裂件化学成分符合标准;断口大多为沿晶断裂,晶界面上有发纹线,未发现二次裂纹,部分断裂为穿晶断裂,未发现断口边缘有加工损伤痕迹;能谱分析未在晶界上发现杂质元素;金相组织为回火索氏体;显微硬度符合标准要求.卡箍产生断裂的主要原因:由于壁厚太薄,拐角较锐利,镀锌时致使大量氢聚集并呈弥散分布,进而形成沿晶裂纹,在外力作用下,导致沿晶脆性断裂.