大晶粒取向硅钢磁性与晶粒取向偏离角的关系研究

• 作者: 冯大军 吴立新 周顺兵 王志奋 韩荣东
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: 大晶粒取向硅钢 EBSD 图像分析仪 偏离角 磁性能
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 研究·分析
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 分类号: TM275|TG142.77
• 语种: 中文

摘要

将电子背散射衍射技术(EBSD)和图像分析技术相结合,测量了大晶粒取向硅钢的晶粒取向偏离角,并研究了取向硅钢磁性能与晶粒取向偏离角的相互关系.