功率IGBT模块可靠性研究

• 作者: 米伟 闫英敏
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: IGBT模块 可靠性 灰色关联法 失效
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 27-31
• 页数: 5页
• 分类号: TM93
• 字数: 2935字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2015.01.007

摘要

提出了一种根据功率IGBT模块实时特征量对IGBT缺陷程度进行评估的新方法。首先从IGBT模块的结构入手，分析了其失效机理及故障特征。然后对IGBT模块进行人为挑断键合线实验，对获得的实验数据进行灰色关联模型建模，以初步验证灰色关联度与缺陷程度的关系；并进一步进行了老化试验，提出了灰色关联预计模型，通过实验验证了预测模型的正确性。该文研究成果为IGBT模块在线可靠性预测提供了参考依据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闫英敏	军械工程学院电气工程系	64	482	11.0	18.0
2	米伟	军械工程学院电气工程系	1	12	1.0	1.0