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55 V沟槽型功率场效应管设计?
55 V沟槽型功率场效应管设计?
作者:
冯全源
汪德波
陈晓培
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
沟槽功率器件
元胞
终端
流片测试
摘要:
设计了一款55V N沟道沟槽型功率器件。通过对元胞与边端进行理论分析,结合实际工艺,对元胞与边端进行合理优化。通过对流片测试数据的分析,最终实现击穿电压为69.562V、阈值电压2.85V、特征导通电阻537.8 mΩ·cm2的功率器件设计。仿真与流片的击穿电压偏差1.5%、阈值电压偏差2.4%、导通电阻偏差0.83%,器件具有较高的可靠性。
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文献信息
篇名
55 V沟槽型功率场效应管设计?
来源期刊
电子器件
学科
工学
关键词
沟槽功率器件
元胞
终端
流片测试
年,卷(期)
2015,(1)
所属期刊栏目
固态电子器件及材料
研究方向
页码范围
23-26
页数
4页
分类号
TN386
字数
1946字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1005-9490.2015.01.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
冯全源
西南交通大学微电子研究所
261
1853
19.0
26.0
2
陈晓培
西南交通大学微电子研究所
11
31
3.0
5.0
3
汪德波
西南交通大学微电子研究所
4
4
1.0
1.0
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节点文献
沟槽功率器件
元胞
终端
流片测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
主办单位:
东南大学
出版周期:
双月刊
ISSN:
1005-9490
CN:
32-1416/TN
开本:
大16开
出版地:
南京市四牌楼2号
邮发代号:
创刊时间:
1978
语种:
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
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