基于四波前横向剪切干涉仪的激光波前测试技术研究

• 作者: 时凯 白兆峰 苏俊宏
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 剪切 波前 二维光栅 哈特曼传感器 干涉
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 63-66
• 分类号: TH744.3
• 语种: 中文

摘要

四波前横向剪切干涉仪的出现为精确、快速地测试激光波前信息提供了很好的研究方法.概述了四波前横向剪切干涉仪的测试原理,对532 nm半导体激光器和ZYG O-GPI干涉仪标准激光源的光束波前进行测试,得到平均椭偏率分别为0.977和0.900.通过对测量数据与激光器标称参数对比分析得出四波前横向剪切干涉仪能够精确地测量激光波前信息.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏俊宏	西安工业大学光电工程学院	111	496	12.0	16.0
2	时凯	西安工业大学光电工程学院	9	16	2.0	3.0
3	白兆峰	西安工业大学光电工程学院	1	2	1.0	1.0