基于 SPEA-II 算法的 SoC 测试多目标优化研究

• 作者: 尚玉玲 朱峰 谈恩民
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: SPEA-II算法 SoC测试 测试时间 测试功耗
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 页码范围: 29-33
• 页数: 5页
• 分类号: TP302
• 字数: 3901字
• 语种: 中文

摘要

测试功耗、测试时间是SoC测试优化中的两个测试目标，它们之间存在相互影响的关系。在多目标优化过程中，进化算法对于解决多目标优化问题拥有比较好的优化效果，因此各种进化算法被广泛地应用于SoC测试多目标优化的研究中。对SoC测试时间、测试功耗这两个测试目标建立联合优化模型，分析了NSGA‐II算法与SPEA‐II算法的特点，并对改进型强度Pareto进化算法（SPEA‐Ⅱ）进行研究，进而将SPEA‐II算法用于上述所建立模型的求解。使用ITC’02标准电路中p93791电路和d695电路对上述方法进行实验验证，实验数据表明上述方法可以求得该联合优化模型的一组最优解；并且针对p93791电路，在与NSGA‐II算法的实验数据比较中，得到了更好的优化结果。证明了SPEA‐II算法对SoC测试结构优化方面具有良好的适用性和可行性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	尚玉玲	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	45	255	8.0	14.0
3	朱峰	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	8	1.0	1.0