基于伏安曲线的熔断器熔断电流的无损检测

• 作者: 张虹 文斌 李彦良 杨勇
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 熔断器 电流保护 熔断电流 伏安曲线 可靠性 无损检测
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TM563+.1
• 字数: 2049字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2015.02.017

摘要

调节熔断器电流的同时测量熔断器两端的电压，获得待测熔断器的U-I曲线并计算出U-R曲线，对比两种曲线分析了熔断机理和规律，发现当熔断器的U-I曲线开始偏离直线时表示其即将熔断，此时所对应的电流可以较准确地表征待测熔断器的实际熔断电流。U-I 曲线检测方法简便并且对待测样品几乎无损，实验表明经过该法检测合格的熔断器可以更安全可靠地工作。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨勇	中国地质大学武汉数学与物理学院	56	466	13.0	20.0
2	张虹	中国地质大学武汉数学与物理学院	9	39	4.0	6.0
3	李彦良	中国地质大学武汉数学与物理学院	1	2	1.0	1.0
4	文斌	中国地质大学武汉数学与物理学院	1	2	1.0	1.0