湿热环境对PbS光导探测器可靠性影响

• 作者: 司俊杰 施正风 陈凤金
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 湿热环境 暗电阻 PbS 光导探测器 性能可靠性 表面吸附
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 510-513
• 页数: 4页
• 分类号: TN215
• 字数: 2163字
• 语种: 中文

摘要

叙述了PbS薄膜的化学水浴制备方法及PbS薄膜形貌、性能测试及湿热环境（相对湿度95%）试验的过程，阐述了PbS探测器芯片经湿热环境试验后暗阻等性能参数的变化情况，分析了其原因和相关机理。短时间（1 h）内湿热环境下，其性能参数变化在5%以内，在持续24 h的潮湿环境后，PbS的暗阻增大50%以上。在之后的2×24 h、3×24 h、4×24 h、5×24 h湿热环境下，暗阻值增量随时间递增呈正比例关系。当潮湿试验进行到7×24 h后，部分试验样件无法测试出响应信号，样件失效。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	司俊杰		33	160	7.0	11.0
3	施正风		3	2	1.0	1.0
4	陈凤金		14	38	4.0	5.0