退火对标准铂电阻温度计性能影响的研究

• 作者: 乐恺 孙建平 李杰 武鑫财 邓小龙
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 标准铂电阻温度计 退火 铂丝氧化 应力
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 页码范围: 26-30
• 页数: 5页
• 分类号: TB942
• 字数: 4131字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2015.01.07

摘要

退火是消除铂电阻温度计内部由于机械振动等因素带来应力的最有效手段,同时也可能改变铂电阻温度计内部铂丝的氧化状态.选用不同国家生产的4支标准铂电阻温度计,分别在600℃、500℃、450℃、420℃、350℃进行退火,研究铂电阻温度计退火后在室温下随时间的变化规律.结果表明,不同的退火温度对铂电阻温度计阻值产生不同影响,对应温度变化量可达1 mK,退火后在室温下0～6h内变化显著,保持同一个热状态可有效提高铂电阻温度计的测量水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	乐恺		51	378	12.0	17.0
2	孙建平		53	248	9.0	13.0
3	武鑫财		4	11	1.0	3.0
4	李杰		25	54	5.0	6.0
5	邓小龙		3	11	2.0	3.0