分子力对机电耦合薄膜压力敏感元件振动的影响

• 作者: 丁玲 孙丽波 许立忠
• 来源期刊: 燕山大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 对边简支对边自由 机电耦合 微薄膜 vanderWaals力 Casimir力 MEMS
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 机械工程
• 页码范围: 523-530
• 页数: 8页
• 分类号: TH113.8
• 字数: 4451字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-791X.2015.06.009

摘要

本文将薄膜式微谐振压力传感器谐振子简化为对边简支对边自由机电耦合微薄膜谐振系统,给出了考虑分子力作用时微薄膜压力敏感元件机电耦合系统动力学方程,推导其振型方程及频率方程,研究了分子力对系统固有频率及自由振动的影响规律. 结果表明:分子力对于机电耦合微薄膜的自由振动固有频率具有重要的影响. 随着系统初始间隙的减小、工作电压的增大、微薄膜厚度的减小以及薄膜长度的增大,分子力对系统固有频率的影响更加显著. 在低阶模态下,分子力对固有频率的影响变大,应该予以考虑. 当初始间隙减小到0.1μm时,Casimir力对固有频率的影响比van der Waals力明显,必须考虑Casimir力的影响. 论文有助于薄膜式微谐振压力传感器谐振子的动力学理论分析,研究结果对于MEMS压力传感器进一步小型化具有指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许立忠	燕山大学机械工程学院	81	306	9.0	13.0
2	丁玲	燕山大学信息科学与工程学院	14	56	4.0	7.0
3	孙丽波	燕山大学环境与化学工程学院	9	51	2.0	7.0