X-射线荧光光谱法测定废塑料表面金属涂层含量

• 作者: 应海松 张建波 李雪莲 黄世杰
• 来源期刊: 化学工程师
• 学科: 化学
• 关键词: XRFS 金属涂层 铝 铜 铅 铬 镍
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1967字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16247/j.cnki.23-1171/tg20150217

摘要

本文提出了利用X-荧光仪测定废塑料各种金属涂层中金属元素含量的方法。以稳定性为优化原则选择了仪器针对不同元素的测量条件，研究了实验过程中样品杯、基材以及金属涂层中元素效应对检测结果的影响；方法精密度为0.008%~0.044%之间；将X-荧光检测结果与ICP检测结果进行比对并得出同样的数据，该方法为控制废塑料金属涂层产生的危害和污染提供更为合理的检测手段，并已应用到实际检测当中。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	应海松		42	128	6.0	10.0
2	黄世杰		11	16	3.0	4.0
3	张建波		5	8	1.0	2.0
4	李雪莲		12	6	2.0	2.0