CCD器件辐射损伤参数测试方法

• 作者: 吾勤之 李豫东 葛钊 陈佳杰
• 来源期刊: 上海航天
• 学科: 航空航天
• 关键词: 辐射效应 参数测试方法 光谱响应
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: V520.6
• 字数: 2579字
• 语种: 中文

摘要

为准确而高效实现CCD辐射损伤参数的定量测试与分析,根据现有的光电成像器件辐射效应测试系统,研究了CCD器件的辐射损伤参数测试方法,可测试暗信号、电荷转移效率、饱和输出电压、固定图像噪声、光响应非均匀性和光谱响应等参数.用此法获得了某CCD器件在60Co-γ射线源辐照下的参数变化规律.结果表明:该测试方法利于CCD辐射损伤的分析,可为CCD的辐射效应研究和抗辐射性能评估提供试验数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吾勤之		8	24	3.0	4.0
2	李豫东	中国科学院新疆理化技术研究所	10	17	2.0	3.0
3	陈佳杰		4	5	1.0	2.0
4	葛钊		2	5	1.0	2.0