LED驱动类IC的多SITE高效测试

• 作者: 韩新峰
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: LED 多工位 并行测试
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 1875字
• 语种: 中文

摘要

作为目前全球最受瞩目的新一代光源，LED因其高亮度、低热量、长寿命、无毒、可回收再利用等优点，被称为21世纪最有发展前景的绿色照明光源。随着LED的广泛应用，市场上对于LED驱动IC的需求也越来越大。所以，对LED驱动类IC测试环节的周期和准确度要求越来越高。为了提高测试效率，多SITE高效率的IC测试越来越受芯片厂商的青睐。对于LED驱动芯片的多管芯并行测试进行了详细的介绍，并对8工位并行测试的硬件设计和软件编程做了进一步的研究。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩新峰		2	4	1.0	2.0