无专用测试接口设备的TPS设计

• 作者: 王建 高莹
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: TPS 现场可更换单元 专用测试接口 并行引出
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 电路与控制
• 页码范围: 45-48,61,66
• 页数: 6页
• 分类号: TP216
• 字数: 2518字
• 语种: 中文

摘要

针对无专用测试接口的设备进行TPS测试时单个现场可更换单元故障隔离率低的问题，采用测试信号并行引出技术，开发现场可更换单元的测试适配板等测试硬件，将现场可更换单元的测试信号并行引出到自动测试设备进行测试分析，高可靠地实现了单个现场可更换单元的故障隔离；同时对信号并行引出带来的测试信号失真问题，在测试程序中采用动态库数据解析技术，提高了测试信号参数解析的准确率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建	中国电子科技集团公司光电研究院	14	13	2.0	3.0
2	高莹	中国电子科技集团公司光电研究院	6	16	3.0	4.0