集成电路FT制程高压测试方法研究

• 作者: 倪晓丽 周淳 姚锐 张亚军
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 高压测试 电源管理
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 页码范围: 14-16,28
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2816字
• 语种: 中文

摘要

随着经济发展和科学技术的进步，集成电路（Integrated Circuit）产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节，集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑，其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张亚军		10	11	2.0	3.0
2	姚锐		5	2	1.0	1.0
3	周淳		2	0	0.0	0.0
4	倪晓丽		1	0	0.0	0.0