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摘要:
电阻抗成像(electric impedance tomography,EIT)是利用测量得到边界电压重构内部电导率分布的技术.通过在ANSYS中建立三维头球模型并注入电流,采用自适应局部增强微分进化算法进行逆问题重构.首先对EIT的基本原理进行阐述,其次介绍微分进化算法在电阻抗成像中的应用,最后通过在头球模型上进行仿真实验,针对基本微分进化算法及其改进算法进行逆问题重构.仿真结果表明,改进的算法较微分进化算法在时间上有显著提高,适应性与牛顿-拉斐逊算法相比明显提高.
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文献信息
篇名 三维脑部电阻抗成像技术研究
来源期刊 中国计量学院学报 学科 医学
关键词 电阻抗成像 有限元分析 头模型 微分进化算法
年,卷(期) 2015,(3) 所属期刊栏目 生物与信息
研究方向 页码范围 331-335,346
页数 6页 分类号 TP39|R3
字数 2803字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-1540.2015.03.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 闫丹丹 中国计量学院信息工程学院 15 48 4.0 6.0
2 沈圣远 中国计量学院信息工程学院 3 10 1.0 3.0
3 李怀明 中国计量学院信息工程学院 3 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
电阻抗成像
有限元分析
头模型
微分进化算法
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1990
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