基于OpenCV的电子元件几何特性测量

• 作者: 刘广超 邓光伟
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: OpenCV 图像预处理 边缘检测 霍夫变换
• 年，卷（期）: 2015,（7）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 165-169
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 2866字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13274/j.cnki.hdzj.2015.07.043

摘要

提出了一种基于OpenCV的基本电子元器件几何特性自适应测量方法.对图像进行预处理如形态学去噪、平滑滤波处理和二值化阈值分割,获得二值化黑白图像.选用Canny算子,检测获得该元器件边缘轮廓线后进行霍夫变换,并对数据进行一定程度的处理,可得到该元器件的几何特性.对于不同场景下的不同元器件,该方法可以自动匹配较合适的处理参数.在VisualStudio 2010和OpenCV2.3.1平台下实现该方法,由实验结果可知,该方法具有较高的精度与较快的速度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘广超	上海理工大学机械工程学院	2	4	1.0	2.0
2	邓光伟	上海理工大学机械工程学院	3	5	1.0	2.0