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摘要:
在沉积时间分别为1h、1.5 h、2h及2.5 h的条件下,分别用磁控溅射法制备了ZnS薄膜,用XRD、SEM、台阶仪、椭偏仪等实验仪器进行物性检测,最终发现,沉积时间越长的薄膜,晶粒越小,密度越大,折射率越大;消光系数受晶粒大小、晶界多少、孔隙率等多种因素影响,呈现复杂变化.
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文献信息
篇名 沉积时间对磁控溅射法制备宽禁带半导体薄膜材料ZnS物性及光学性质的影响
来源期刊 真空 学科 物理学
关键词 磁控溅射法 宽禁带半导体 ZnS
年,卷(期) 2015,(1) 所属期刊栏目 薄膜
研究方向 页码范围 27-30
页数 分类号 O472
字数 语种 中文
DOI 10.13385/j.cnki.vacuum.2015.01.07
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邓金祥 北京工业大学应用数理学院 45 150 7.0 9.0
2 段苹 北京工业大学应用数理学院 16 50 5.0 6.0
3 陈仁刚 北京工业大学应用数理学院 3 10 2.0 3.0
4 高红丽 北京工业大学应用数理学院 7 3 1.0 1.0
5 杨倩倩 北京工业大学应用数理学院 4 2 1.0 1.0
6 苗一鸣 北京工业大学应用数理学院 2 8 2.0 2.0
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真空
双月刊
1002-0322
21-1174/TB
大16开
辽宁省沈阳市万柳塘路2号
8-30
1964
chi
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