基于半导体探测法220 Rn测量仪的准确刻度

• 作者: 单健 吴喜军 周青芝 李志强 黄成
• 来源期刊: 南华大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 连续测量仪 峰重叠因子 220 Rn测量仪 刻度
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 核科学与工程
• 页码范围: 6-8
• 页数: 3页
• 分类号: TL72|TL84
• 字数: 1638字
• 语种: 中文

摘要

采用多道脉冲幅度分析器测定216 Po 6.78 MeV能谱峰对6.00 MeV计数区的峰重叠因子μ为0.0897.将流气式固体220 Rn源作为标准源测定220 Rn测量仪测220 Rn刻度系数为9.4004.提高了半导体探测法型220 Rn测量仪刻度的准确性与测220 Rn准确度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴喜军	南华大学数理学院	26	59	5.0	6.0
2	单健	南华大学核科学技术学院	84	335	8.0	15.0
3	周青芝	南华大学核科学技术学院	40	111	6.0	8.0
4	李志强	南华大学核科学技术学院	22	71	6.0	7.0
5	黄成	南华大学核科学技术学院	7	6	2.0	2.0