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摘要:
SiO2磁控反应溅射是根据靶电源电压来调整镀膜室中O2的含量,由于靶电源反馈信号产生的误差和延时,会使SiO2成膜率不高和靶表面“中毒”.本文介绍一种使用模糊控制的方法,根据检测SiO2发光光谱,控制具有高速反应的压电陶瓷阀,进而调节反应溅射中参与反应的O2含量,从而达到控制SiO成膜的效果.这种方法不仅提高了SiO2的成膜率,而且有效防止了靶表面产生的“中毒”反应.
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文献信息
篇名 导电玻璃SiO2反应溅射的模糊控制
来源期刊 玻璃 学科 工学
关键词 模糊控制 反应溅射 透过率
年,卷(期) 2015,(12) 所属期刊栏目 玻璃深加工
研究方向 页码范围 35-39
页数 5页 分类号 TQ171
字数 1777字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 殷孝雎 8 2 1.0 1.0
2 吕桂娟 4 1 1.0 1.0
3 于鹏 3 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
模糊控制
反应溅射
透过率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
玻璃
月刊
1003-1987
13-1106/TQ
大16开
河北省秦皇岛市河北大街西段91号
1974
chi
出版文献量(篇)
3465
总下载数(次)
16
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