基于边界扫描技术的新一代电路板测试平台

• 作者: 高天虹
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 前沿技术
• 页码范围: 10-13
• 页数: 4页
• 字数: 3324字
• 语种: 中文

摘要

随着电子设备复杂程度的日益提高，其核心电路板的品质已成为决定电子设备质量和性能的重要因素，而电路板的测试主要面临技术、周期和费用3大方面的挑战，集成最新技术的电路板测试平台被越来越多的测试工程师所关注。基于泛华电路板测试平台可以实现电路板的功能测试与诊断，利用边界扫描技术，能够快速适应多种类电路板的共平台测试，基于云端数据服务与专家库技术，能够快速进行故障定位。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高天虹		4	8	1.0	2.0