辉光放电质谱法测定高纯镍中16种痕量杂质元素

• 作者: 刘英波 杨海岸 罗舜 闫豫昕
• 来源期刊: 冶金分析
• 关键词: 辉光放电质谱法 高纯镍 痕量元素 无需标准样品直接分析
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 1-6
• 页数: 6页
• 字数: 3789字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.009516

摘要

采用辉光放电质谱法(GD-MS),不用标准样品绘制校准曲线,直接测定高纯镍中硅、磷、硫、锰、铁、钴、锌、砷、镉、锑、锡、铅、铋、镁、铝和铜共16个痕量杂质元素.确定了分析高纯镍的最佳仪器参数并总结了参数的调节方法.当预溅射时间设定在20 min时,可以完全消除样品在预处理过程中引入的钠、钙和铁的污染.在中分辨率分析模式下,选择丰度最高的24 Mg、27A1、28Si、31P、114 Cd、32S、209 Bi、75 As、55 Mn、56 Fe、59 Co、63 Cu、121 Sb、208Pb作分析同位素可以减小同位素质谱峰干扰,但锌和锡例外.虽然64 Zn和120Sn丰度最高,但其质谱峰分别与36Ar14N16O和82Se36Ar的质谱峰重叠,因此实验选择质谱峰能分开、丰度较低的66Zn和118Sn作为分析同位素.采用实验方法对3个高纯镍样品进行分析,测定值与参考值以及电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)的测定值符合性较好.其精密度随着元素含量的增大而越来越好,当元素含量在μg/g水平时,其相对标准偏差(RSD)小于10％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘英波		21	111	6.0	9.0
3	罗舜		7	35	4.0	5.0
5	杨海岸		5	24	3.0	4.0
7	闫豫昕		4	28	3.0	4.0