基于同步测量的电阻抗层析成像系统研究

• 作者: 杨永政 杨涛 陈晓艳 黄华芳
• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电阻抗层析成像 同步测量 正则化算法 PXI LabVIEW
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 传感器应用
• 页码范围: 1575-1580
• 页数: 6页
• 分类号: TP391
• 字数: 2588字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1699.2015.10.027

摘要

针对APT模式EIT系统存在的异步测量、结构复杂、调试困难等问题,研究设计了一种基于同步测量的电阻抗层析成像系统,从硬件和软件两个方面阐述了如何实现同步测量.系统硬件由PXI集成控制器、开关模块、数据采集模块和自制电流源组成,简化了系统结构,提高了系统的稳定性和精确度.本系统采用LabVIEW开发了专用软件包,实现了信号的同步采集,并用改进正则化算法重建了电导率分布图像.对比实验显示了同步测量和异步测量的差异,结果表明同步测量EIT系统图像更清晰,伪影更少,平均相对误差降低了48.99%.本文提供了一种可行的EIT系统同步测量方法,该方法适用于多电极(电极数≥16)场域的无损伤成像应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄华芳	天津科技大学电子信息与自动化学院	16	124	6.0	11.0
2	陈晓艳	天津科技大学电子信息与自动化学院	45	240	10.0	13.0
3	杨涛	天津科技大学电子信息与自动化学院	3	9	2.0	3.0
4	杨永政	天津科技大学电子信息与自动化学院	3	28	3.0	3.0