晶体硅光伏组件EL检测出的黑片缺陷失效分析

• 作者: 朱景兵 王国峰 龚海丹
• 来源期刊: 太阳能
• 关键词: 晶体硅光伏组件 缺陷 电池黑片 失效分析 EL检测
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 技术产品与工程
• 页码范围: 26-31
• 页数: 6页
• 字数: 2754字
• 语种: 中文

摘要

主要针对晶体硅太阳电池在生产过程、实验室测试和实际运行的不同阶段所观察到的4种不同类型的缺陷黑片,通过红外线(IR)、电致发光(EL)、反向偏压致发光(ReBEL)和能谱仪(EDX)等手段进行研究、分析,找出这些黑片缺陷产生的根本原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱景兵		3	3	1.0	1.0
2	龚海丹		1	1	1.0	1.0
3	王国峰		1	1	1.0	1.0