基于加速老化试验的O形密封圈存储寿命预测

• 作者: 石颉 郑立军 高兵兵
• 来源期刊: 橡胶工业
• 学科: 工学
• 关键词: O形密封圈 加速老化试验 拉断伸长率 存储寿命 寿命预测
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 测试·分析
• 页码范围: 694-696
• 页数: 3页
• 分类号: TQ333.93
• 字数: 1844字
• 语种: 中文

摘要

对库存O形密封圈(简称O形圈)进行基于热应力的加速老化试验与存储寿命预测.结合O形圈特点,选取拉断伸长率作为关键指标,根据多温度下拉断伸长率随时间的变化趋势,计算材料的活化能,进而预测O形圈的存储寿命.3种O形圈存储寿命预测值与实际存放情况吻合,证明方法有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石颉		23	66	5.0	7.0