模拟开关测试方法探讨

• 作者: 魏军
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟开关 集成电路 测试方法
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 1865字
• 语种: 中文

摘要

集成多路模拟开关(以下简称模拟开关)在电子电路中起接通信号或断开信号的作用,主要用于模拟信号与数字控制的接口.近几年,集成模拟开关的性能有了很大的提高,可工作在非常低的电源电压,具有较低的导通电阻、微型封装尺寸和极佳的开关特性,是自动数据采集、程控增益放大等重要技术领域的常用器件,其实际使用性能的优劣对系统的可靠性有着重要影响.以4路SPST集成开关AD7510为例,重点讨论了模拟开关参数指标以及其功能和关键参数的一般测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏军		2	9	1.0	2.0