基于紫外成像技术的接触网绝缘子污秽状态检测

• 作者: 姜浩然 杨帆 段伟 金立军
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 接触网 绝缘子 污秽状态 等值附盐密度 粒子群 紫外成像
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 轨道交通电气与安全专题
• 页码范围: 3561-3568
• 页数: 8页
• 字数: 5249字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2015.11.006

摘要

紫外成像技术可以检测到污秽绝缘子的局部放电影像,是一种非接触的检测方法,而等值附盐密度(ESDD)可用来划分绝缘子的污秽等级.为更准确地进行绝缘子污秽度检测,提出1种基于紫外成像技术的绝缘子附盐密度检测方法,据此判别绝缘子的污秽状态.在人工气候室进行了绝缘子人工污秽实验,基于视频与图像处理技术研究了ESDD分别为0.05、0.08、0.15、0.25、0.35、0.40 mg/cm2,相对湿度分别为60％、65％、70％、75％、80％、85％、90％、95％条件下绝缘子的放电情况,提出了描述污秽绝缘子紫外图像中放电特性的稳定性光斑平均面积、间歇性光斑平均面积、光斑平均面积3个特征参量.结果表明:随着湿度和ESDD的增加,绝缘子污秽放电光斑面积增大,放电更加剧烈,当相对湿度为95％且ESDD为0.40 mg/cm2时,光斑平均面积占总面积高达18.4％;利用最小二乘支持向量回归机建立绝缘子ESDD检测模型,并用粒子群算法优化参数,当迭代进行到第55次时收敛,得到较好的适应度为0.002 7;最后通过实验验证,该模型准确率达到95％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金立军	同济大学电子与信息工程学院	81	1000	17.0	29.0
3	杨帆	同济大学电子与信息工程学院	95	774	15.0	24.0
4	段伟		3	20	1.0	3.0
7	姜浩然	同济大学电子与信息工程学院	2	53	2.0	2.0