SPC参数控制限和规范限的定义

• 作者: 付兴昌 孙天玲 崔玉兴 李保第 李彦伟 闫锐
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: SPC 控制限 规范限 目标值 Cpk
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 微组装 SMT PCB
• 页码范围: 163-164,182
• 页数: 3页
• 分类号: TN305
• 字数: 2508字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2015.03.010

摘要

介绍了定义SPC控制限和规范限的一套方法.在多品种小批量的化合物半导体前道工艺线推行SPC的过程中,针对不同参数的性质不同,分别总结出了三种不同的定义方法,从而对前道工艺流程的全部参数实行了SPC监控,并在实际的控制中证明该方法是有效的.该方法解决了困扰SPC使用者如何定义控制限和规范限的难题,尤其对于刚开始推行SPC的生产线有借鉴意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付兴昌	中国电子科技集团公司第十三研究所	27	68	5.0	7.0
2	崔玉兴	中国电子科技集团公司第十三研究所	30	88	6.0	8.0
3	孙天玲	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	0	0.0	0.0
4	李保第	中国电子科技集团公司第十三研究所	2	2	1.0	1.0
5	闫锐	中国电子科技集团公司第十三研究所	2	0	0.0	0.0
6	李彦伟	中国电子科技集团公司第十三研究所	3	2	1.0	1.0