X荧光仪在西沟矿石灰石检测中的应用

• 作者: 颜威山
• 来源期刊: 引文版：工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: X荧光仪 曲线标定 石灰石检验
• 年，卷（期）: 2015,（20）
• 页码范围: 299-300
• 页数: 2页
• 分类号: TD235.2

摘要

西沟矿石灰石分为熔剂灰岩与水泥灰岩，传统的化学分析方法因检验周期较长致使质量控制存在滞后问题，标定准确、可靠的曲线，采用x荧光仪物理分析方法快速、准确的为质量控制提供数据依据。X荧光仪荧光强度分析待检测含量的多少，曲线绘制采用多变量最小二乘拟合法，矿石中含有的Fe、Al、Mg、Ti、Cr影响数据的准确性，断层附近发黄的样品存在矿化效应，SiO2数据存在系统偏差，针对曲线标定过程中标样涵盖采掘区内不同品位的矿石及特殊情况下的矿石，添加过高、过低及特殊色泽的标样，评估过程长要对Fe、Al、Mg、Ti、Cr等元素进行处理。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜威山	酒钢集团宏兴钢铁股份有限公司西沟矿	4	0	0.0	0.0