U HF RFID 密集标签互耦效应的频移特性研究

• 作者: 任秀方 孟春阳 彭章友 李帅 陈文涛
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 射频识别 互耦效应 电感耦合型标签 频率偏移
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 【研究与设计】
• 页码范围: 11-15
• 页数: 5页
• 分类号: TN06
• 字数: 2957字
• 语种: 中文

摘要

针对U H F RFID密集环境下标签性能受互耦效应影响的问题，从天线阻抗频移特性的角度对标签间互耦效应进行研究。首先基于电感耦合型标签天线的结构和电路模型，分析带有弯折辐射体结构的标签天线互相耦合时阻抗的频率特性，并通过仿真计算验证了天线阻抗向低频偏移的结论。进一步结合理论和仿真数据分析互耦效应的频率特性，得出天线阻抗的频率偏移导致目标标签的功率传输系数也相应地向低频偏移的结论，从而导致标签的读取性能不稳定。结论对密集标签的性能研究具有指导意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭章友	上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室	44	93	6.0	7.0
2	孟春阳	上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室	3	17	3.0	3.0
3	任秀方	上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室	3	17	3.0	3.0
4	李帅	上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室	9	45	5.0	6.0
5	陈文涛	上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室	3	15	3.0	3.0