硬件复用的内建自测试结构设计

• 作者: 孙金明 尹明 潘红兵
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 内建自测试 测试生成 多输入特征分析
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 342-344,384
• 页数: 4页
• 分类号: TN06
• 语种: 中文

摘要

现代数字集成电路因规模庞大而导致测试困难,内建自测试是一种有效的可测性设计技术;由于内建自测试在电路内部设计测试生成与分析模块,需要消耗额外的硬件资源;通过对测试生成与特征分析模块的结构分析,提出基于硬件结构复用的可重构逻辑块观测器,并基于该模块设计了可重构的内建自测试结构;仿真结果表明,该测试结构通过硬件结构的时分复用,能有效地降低硬件资源消耗,测试逻辑正确有效,测试速度较快.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹明	海军工程大学电子工程学院	22	51	4.0	6.0
2	潘红兵	海军工程大学电子工程学院	24	65	4.0	7.0
3	孙金明	海军工程大学电子工程学院	5	30	3.0	5.0