微动磨损测试微摩擦测量头刚度标定

• 作者: Derek G.Chetwynd 张广玉 王仲楠 王武义
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 测试系统 微动磨损 刚度标定 低频往复摆动
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 页码范围: 57-59,65
• 页数: 4页
• 分类号: TH117.1|TH703.8
• 语种: 中文

摘要

针对通用于一般机构和微、纳机电系统(MEMS/NEMS)的微动磨损测试,新研制了低频往复式微动磨损测试系统.采用微压痕式直接标定方法,首先标定垂直、侧向加载测试的传感器灵敏度,再用标定的传感器进行了电磁加载微测量头装置的机构刚度标定.实验结果表明:垂直、侧向分别加载得到的机构刚度值偏差小,电磁加载微测量头装置可靠性、实验一致性好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张广玉	哈尔滨工业大学机电工程学院	87	766	14.0	24.0
2	王仲楠	哈尔滨工业大学机电工程学院	4	2	1.0	1.0
3	王武义	哈尔滨工业大学机电工程学院	19	90	5.0	9.0
4	Derek G.Chetwynd	华威大学工程学院	1	0	0.0	0.0