基于CMOS图像传感器列级ADC的数字双采样

• 作者: 徐江涛 贾文龙 高静
• 来源期刊: 南开大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS图像传感器 数字双采样 列级模数转换器
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 页码范围: 61-66
• 页数: 6页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

提出了一种用于CMOS图像传感器的数字双采样10位列级模数转换器.比较器采用失调消除技术,数字双采样通过加/减计数器实现,使复位信号和像素信号的量化结果在数字域做差,消除了像素输出产生的固定模式噪声;列电路由一个比较器、一个计数器和一个锁存选通器组成.采用GSMC 0.18μm标准CMOS工艺对电路进行设计,一个完整的A/D转换时间为11μs,使用Cadence spectre进行仿真,结果表明:ADC的信噪失真比为57.86 dB,有效位数9.32,列电路功耗为58.24 μW,由比较器的失调和延迟产生的误差可以减小50％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高静		48	284	9.0	15.0
2	徐江涛		78	323	11.0	14.0
3	贾文龙		2	0	0.0	0.0