精密光学元件表面中频误差的提取研究

• 作者: 任志英 林建兴 高诚辉
• 来源期刊: 机械制造与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 双树复小波 精密光学元件表面 中频误差 提取
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 85-88
• 页数: 4页
• 分类号: TG58
• 字数: 2822字
• 语种: 中文

摘要

能否准确对精密光学元件表面评价势必影响着光学元件研制与生产，其中中频误差的提取逐渐显得重要。提出了利用双树复小波变换( DT－CWT)对精密光学元件表面提取信号进行多尺度分解，以定义的均方根波长确定其双树复小波分解次数，进行中频误差的提取与识别。此方法应用于精磨和镀膜的精密光学元件表面中，实验证实该方法不仅可以应用于一维信号的提取，同样也适合三维表面中频波段面形误差的提取。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高诚辉	福州大学机械工程及自动化学院	183	1730	20.0	33.0
5	任志英	福州大学机械工程及自动化学院	52	106	6.0	8.0
9	林建兴	福州大学机械工程及自动化学院	5	25	3.0	5.0