压片制样-X射线荧光光谱法测定普硅锰硅合金中的Ti

• 作者: 刘光蓉
• 来源期刊: 铁合金
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱法 压片制样 普硅锰硅合金 Ti
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 化验分析
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: TF642-34
• 字数: 1640字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16122/j.cnki.issn1001-1943.2015.12.011

摘要

介绍了粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定普硅锰硅合金中Ti样品的制备,压片法的颗粒效应,校准曲线的建立及拟合等问题.当Ti的质量分数分别为0.268％,其相对标准偏差分别为0.48％.该方法用于实际样品分析,分析结果与实验室内其他方法的结果吻合,一致性较好,能满足常规分析要求.