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势阱势垒宽度对GaAs/AlGaAs对称DBS RTD NDR特性的影响
势阱势垒宽度对GaAs/AlGaAs对称DBS RTD NDR特性的影响
作者:
余厉阳
余育新
吕伟锋
孟晓
宁祥
张海鹏
李阜骄
林弥
王利丹
王彬
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
共振隧穿二极管
GaAs/AlGaAs
对称双势垒
势阱宽度
势垒宽度
负阻特性
摘要:
目前共振隧穿二极管(RTD)多值逻辑电路研究采用多个MOSFETs组合,以逼近RTD特性,这是现有逻辑功能验证的不足。针对该问题,通过建立对称双势垒RTD电子输运的解析模型,进而采用SILVACO TCAD对GaAs/AlGaAs基对称DBS RTD器件的电学特性进行仿真实验研究。根据仿真实验的结果分析总结了势阱和势垒宽度对GaAs/AlGaAs基对称DBS RTD负阻特性影响的规律,并根据MVL电路设计应用的低压、低功耗、适当峰谷电流比和工艺可实现性等要求,通过大量的仿真优化实验提出采用GaAs/AlGaAs基对称DBS RTD实现多值逻辑电路设计所需的对称DBS RTD器件设计参数窗口。
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AlGaAs/GaAs HBT非等温能量平衡模型(NEB)及其数值分析
HBT
NEB模型
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DD模型
二维模拟
负微分电阻
轴向应变对双势垒结构共振隧穿的影响
应变
共振隧穿
介观压阻效应
内容分析
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引文网络
相关学者/机构
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文献信息
篇名
势阱势垒宽度对GaAs/AlGaAs对称DBS RTD NDR特性的影响
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
共振隧穿二极管
GaAs/AlGaAs
对称双势垒
势阱宽度
势垒宽度
负阻特性
年,卷(期)
2015,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
38-43
页数
6页
分类号
TN312.2|TN313.2
字数
3858字
语种
中文
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电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
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